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我們的服務(wù) 失效分析 功率模塊LV/AQG 324認(rèn)證試驗
功率模塊LV/AQG 324認(rèn)證試驗
AQG324制定了完善的車規(guī)級功率模塊可靠性試驗，可以有效驗證產(chǎn)品可靠性，指導(dǎo)廠商更深入了解其產(chǎn)品可靠性能，從而加快產(chǎn)品開發(fā)速度，優(yōu)化工藝流程。廣電計量以LV/AQG324認(rèn)證試驗為基礎(chǔ)，布局半導(dǎo)體功率模塊驗證相關(guān)技術(shù)能力，為功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供功率模塊電學(xué)性能檢測，材料、器件與系統(tǒng)的可靠性驗證以及失效分析服務(wù)。
服務(wù)介紹
功率半導(dǎo)體模塊是新能源汽車中的核心部件之一，目前絕大多市場份額為國際巨頭所壟斷，而國產(chǎn)功率模塊性能尚無法滿足汽車核心裝備應(yīng)用，主要原因之一是可靠性有待提升。
 

測試周期：

2-3個月，提供全面的認(rèn)證計劃、測試等服務(wù)
 

產(chǎn)品范圍：

適用于MOSFET，Diode，IGBT，第三代半導(dǎo)體器件等元件構(gòu)成的功率模塊。
 

測試項目：

序號 測試項目 縮寫 樣品數(shù)/批 測試方法
1 Thermal shock test TST 6 IEC 60749-25
2 Vibration V 6 DIN EN 60068-2-6
3 Mechanical shock MS 6 DIN EN 60068-2-27
4 Power cycling PCsec 6 IEC 60749-34
5 Power cycle PCmin 6 IEC 60749-34
6 High-temperature storage HTS 6 IEC 60749-6
7 Low-temperature storage LTS 6 JEDEC JESD-22 A119
8 High-temperature reverse bias HTRB 6 IEC 60747-9
9 High-temperature gate bias HTGB 6 IEC 60747-9
10 High-humidity, high-temperature reverse bias H3TRB 6 IEC 60749-5
11 Determining parasitic stray inductance Lp 6 IEC 60747-15
12 Determining thermal resistance Rth 6 DIN EN 60747-15
13 Determining short-circuit capability / 6 /
14 Insulation test / 6 /
15 Determining mechanical data / 6 /