服務(wù)類別 | 服務(wù)項目 |
車規(guī)級芯片驗證 | 半導(dǎo)體分立器件AEC-Q101產(chǎn)品測試 |
功率模塊AQG 324產(chǎn)品測試 | |
光電氣AEC-Q102產(chǎn)品測試 | |
阻容感等電器AEC-Q200認(rèn)證測試 | |
集成電路AEC-Q100測試 | |
多芯片組件(MCM)AEC-Q104測試 | |
元器件篩選 | 氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗 |
電子元器件破壞性物理分析 | |
電子元器件篩選 | |
電性能與功能測試 | FAKRA/HAD連接器信號完整性測試 |
功率器件參數(shù)測試 | |
汽車音響指標(biāo)測試 | |
工藝質(zhì)量評價 | BGA染色測試 |
PCB/PCBA金相切片測試 | |
X射線透視測試 | |
剪切力拉力測試 | |
離子污染度測試 | |
錫須檢查 | |
車規(guī)級芯片失效分析 | 無損檢測分析 |
電性能分析 | |
樣品破壞分析 | |
精密顯微鏡分析 | |
綜合性能分析 | |
材料可靠性評價與產(chǎn)品質(zhì)量提升 | 材料壽命預(yù)估與可靠性 |
非金屬失效分析 | |
金屬常規(guī)測試 | |
金屬失效分析 | |
離子色譜測試 |